Установка для измерения параметров полупроводниковых материалов на эффекте Холла Ecopia HMS 3000 (Ecopia Corp., Корея)

Фотография рабочего места:1- измерительная установка Ecopia HMS-3000, 2- модуль с постоянным магнитом, 3- измерительной платформы для образца,4- системный блок СКиОД, 5- монитор.

Установка для измерения параметров полупроводниковых материалов на эффекте Холла HMS-3000 предназначена для определения удельного электрического сопротивления, типа полупроводниковых материалов, концентрации и подвижности основных носителей заряда полупроводниковых материалов и полупроводниковых структур.
Измерение  концентрации и подвижности основных носителей заряда выполняют четырехзондовым модифицированным методом Ван-дер-Пау. Установка HMS-3000 позволяет проводить измерения концентрации и подвижности как при комнатной температуре, так и при температуре жидкого азота (77К), что обусловлено необходимостью получения информации о влиянии на транспортные свойства различных механизмов рассеянья.