Оборудование

Стенд для измерения характеристик инжекционных светоизлучающих приборов

Комплекс для сканирующей ближнепольной оптической спектроскопии

Автоматизированный комплекс для спектроскопии излучения, пропускания и отражения полупроводниковых гетероструктур в диапазоне длин волны 410 - 2400 нм
