АЛФЁРОВСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ
федеральное государственное бюджетное учреждение высшего образования и науки «Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук» Сведения об образовательной организации
  • Об университете
    • История создания университета
    • Жорес Иванович Алферов
    • Руководство университета
    • Высшее образование
    • Инфраструктура
    • Вакансии
    • Почетные доктора университета
    • Партнеры
  • Абитуриенту
    • Бакалавриат
    • Магистратура
    • Аспирантура
    • Школам
    • Контакты
  • Студенту
    • Бакалавриат
    • Магистратура
    • Аспирантура
  • Сотруднику
    • Приказы и распоряжения
    • Разъяснения
  • Наука
    • Основные научные достижения
    • Лаборатории
    • Публикации
    • Диссертационный совет
    • Научные семинары
    • Новости и события
  • Лицей ФТШ
    • Официальные данные о Лицее
  • События
    • Новости
    • Мероприятия
    • Конференции
    • Колонка ректора
  • Контакты
    • Сотрудники

Наука

Основные научные достиженияЛабораторииПубликацииДиссертационный советНаучные семинарыНовости и события
  • Главная
  • »
  • Наука
  • »
  • Лаборатории
  • »
  • Лаборатория нанофотоники
  • »
  • Оборудование
« Лаборатория нанофотоники Стенд для измерения характеристик инжекционных светоизлучающих приборовКомплекс для сканирующей ближнепольной оптической спектроскопииАвтоматизированный комплекс для спектроскопии излучения, пропускания и отражения полупроводниковых гетероструктур в диапазоне длин волны 410 - 2400 нмУстановка исследования спектров излучения полупроводниковых и диэлектрических материалов на базе автоматизированного быстродействующего монохроматора с высоким оптическим разрешением (0,01 нм

Оборудование

Стенд для измерения характеристик инжекционных светоизлучающих приборов

Стенд для измерения характеристик инжекционных светоизлучающих приборов

Комплекс для сканирующей ближнепольной оптической спектроскопии

Комплекс для сканирующей ближнепольной оптической спектроскопии

Автоматизированный комплекс для спектроскопии излучения, пропускания и отражения полупроводниковых гетероструктур в диапазоне длин волны 410 - 2400 нм

Автоматизированный комплекс для спектроскопии излучения, пропускания и отражения полупроводниковых гетероструктур в диапазоне длин волны 410 - 2400 нм

Установка исследования спектров излучения полупроводниковых и диэлектрических материалов на базе автоматизированного быстродействующего монохроматора с высоким оптическим разрешением (0,01 нм

Установка исследования спектров излучения полупроводниковых и диэлектрических материалов на базе автоматизированного быстродействующего монохроматора с высоким оптическим разрешением (0,01 нм

  • Анти - террор
  • Анти - наркотики
  • Анти - коррупция
  • События
  • Коронавирус
Политика обработки персональных данных