Автоматизированный комплекс для спектроскопии излучения, пропускания и отражения полупроводниковых гетероструктур в диапазоне длин волны 410 - 2400 нм

Автоматизированный комплекс для спектроскопии излучения, пропускания и отражения полупроводниковых гетероструктур в диапазоне длин волны 410 - 2400 нм

Комплекс предназначен для автоматизированного исследования оптических свойств полупроводниковых и диэлектрических материалов при использовании перестраиваемого лазера c оптическим параметрическим осциллятором (диапазон длин волн 410 - 2400 нм) в импульсном режиме.

Также измерения проводятся при оптической накачке образцов в непрерывном режиме YAG:Nd лазером мощностью 20мВт с длинной волны излучения 527нм и He-Cd лазером 10мВт с длинной волны излучения 325 нм. Излучение накачки модулируется с помощью прерывателя Thorlabs. Исследования могут проводиться при комнатной температуре, либо при температуре жидкого азота (77К). Автоматизация измерительных процессов выполнена на базе пакета LabVIEW.

В стенде задействовано следующее основное оборудование:

  • перестраиваемый лазер SolInstruments LF117 OPO 2200 CHAMELEON (ВВО Type II)
  • монохроматор "Spectral Products"
  • синхронный детектор "Stanford Research Systems"
  • лазер DTL-413 (527 нм)
  • He-Cd УФ-лазер "PLASMA" (320 нм)
  • прерыватель оптического луча "Thorlabs"
  • InGaAs и кремниевые одноканальные детекторы "Teledyne Judson Technologies"